Российские и немецкие учёные измерили прочность нанопроводов
При внедрении в различные электронные
структуры и гибкие устройства нанопровода могут испытывать механические
напряжения и деформироваться. Для определения их упругих характеристик
коллектив российских и немецких учёных предложил неожиданно простое
решение – по-новому использовать возможности атомно-силового микроскопа.
Именно с помощью этого инструмента, который сегодня имеется практически
в каждой физической лаборатории, оказалось возможным установить структурные дефекты нанопроводов.
С каждым годом наши компьютеры становятся всё мощнее, электронные
приборы вбирают в себя всё больше функциональных возможностей и
происходит активная миниатюризация устройств. Для того чтобы
обеспечивать этот прогресс, исследователи постоянно находятся в поиске
новых перспективных материалов и структур, к которым, несомненно,
относятся и нанопровода.
Нанопровод по сути представляет собой очень тонкую
проволоку, ширина которой лежит в нанометровом диапазоне, а длина на
порядки больше ширины.
Огромный интерес представляет собой изучение нанопроводов, состоящих из полупроводников, например из GaAs, который входит в тройку наиболее используемых материалов в микроэлектронике.
По сравнению с широко распространённой кремниевой электроникой,
микросхемы, изготовленные из GaAs, обладают более высоким
быстродействием и низким уровнем вредных шумов. Кроме этого, в научн
...
Читать дальше »
